微區探頭Ava-Probe-M

Ava-Probe-M是專門針對微小區域（≤1mm）的反射率測試設計的，適用于表面平整，形狀規則的材料。探頭配合不同芯徑的光纖，可實現不同區域大小反射光譜的測量。使用過程中，可通過觀察窗，觀察確認樣品的測量。

微區光譜測量結合顯微系統與光譜儀，能夠在微米級尺度上獲取樣品的光學特性。其典型應用包括：

1.    工業材料檢測與器件性能優化

·  納米材料表征：如金屬納米陣列的表面等離激元共振吸收分析，調控光電器件的響應波長

·  半導體材料研究：檢測晶圓表面微區反射光譜，評估材料能帶結構及雜質分布，提升器件性能。識別材料表面缺陷，測量鍍膜材料的反射率、厚度均勻性及缺陷分布，優化薄膜工藝

·  光電探測器優化：檢測表面等離激元器件的共振吸收光譜，調控納米結構尺寸以增強光響應性能；高Q值光纖諧振腔的反射譜測量

2. 環境與農業監測

·  土壤污染評估：通過測量作物葉片（如水稻）光譜，分析土壤重金屬（如Cd、As）含量，支持農田環境治理

·  土壤有機質分析：通過測量土壤光譜，分析預測干旱區荒地有機質含量

·  作物健康監測：通過植物葉片光譜變化診斷重金屬脅迫或營養缺失，輔助精準農業

3. 生物醫學與生命科學

·  細胞及組織分析：在微米尺度下檢測生物樣本（如腫瘤組織）的反射光譜差異，輔助病理研究

·  藥物載體研究：分析藥物緩釋材料的微區光學特性，優化載藥效率與釋放行為